AM4515ZTL 手持数码显微镜 — 内置测量功能,精准量化每一个细节
Dino-Lite AM4515ZTL是一款集成高清成像与专业测量功能的手持数码显微镜,专为工业精密检测、质量控制及科研教学场景设计。产品采用 5x–140x 连续变焦光学系统,内置周长 (C)、面积 (A)、半径 (r) 等多维度测量工具,无需额外软件即可在实时画面中直接标注数据,实现 '拍图即出报告' 的高效检测流程。
作为 Dino-Lite 经典测量系列型号,AM4515ZTL 凭借长工作距离、批量多点标注和微米级测量精度,已广泛应用于模具制造、电子半导体、精密五金、汽车零部件等行业的尺寸检测与质量追溯环节。
核心功能特点
1. 内置专业测量,多参数同步输出
AM4515ZTL 内置完整测量工具包,支持以下参数的直接测量与标注:
周长 (C):精确测量封闭轮廓的周长,精度达 0.01mm
-面积 (A):自动计算封闭区域面积,单位 mm²
半径 (r):圆形 / 弧形结构的半径一键测量
直线距离:两点间距离快速量测
所有测量数据直接叠加显示在显微图像上,支持截图保存,测量结果与图像一一对应,便于报告生成与质量追溯。
2. 批量多点标注,检测效率提升数倍
针对阵列式零件(如模具凸点阵列、BGA 焊盘矩阵、微孔板)的批量检测需求,AM4515ZTL 支持单张图像同时标记 16 个以上测量点,每个测量点独立输出周长、面积、半径三组数据。
实测案例:某模具客户使用 AM4515ZTL 在 5x 倍率下,单张图像完成 16 个凸点的同步测量,每点输出 C/A/r 三组数据,整体检测时间较传统方式缩短 70% 以上。
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3. 5x–140x 连续变焦,全局细节一镜覆盖
AM4515ZTL 采用连续变焦光学设计,变焦范围覆盖5 倍至 140 倍:
低倍率(5x–20x):适用于整体布局观察、阵列式零件全局测量
中倍率(20x–80x):适用于零部件细节检测、常规尺寸测量
高倍率(80x–140x):适用于微孔、毛刺、划痕等微观形貌分析
连续变焦设计无需更换镜头,检测过程不中断,操作流畅高效。
4. 长工作距离设计,适配各类工装夹具
AM4515ZTL 采用长工作距离光学设计,镜头与被测物之间留有充足操作空间,便于配合以下场景使用:
配合 MS35B、MS36B 等专用支架进行固定工位检测
配合工装夹具进行在线测量
对深腔、凹槽等特殊结构进行伸入式观察
实验室抽检与产线全检灵活切换
5. 即插即用,操作简便
AM4515ZTL 采用 USB 接口连接,即插即用,无需复杂调试。配套 DinoCapture 软件功能强大且界面友好,支持图像采集、视频录制、测量标注、图像对比等功能,新手也能快速上手。
规格说明 :
产品型号: AM4515ZTL
品牌:Dino-Lite(中国台湾)
光学变焦:5x – 140x 连续变焦
测量功能: 周长 (C)、面积 (A)、半径 (r)、直线距离
测量精度 :3%
工作距离:长工作距离设计
接口类型 :USB 2.0
图像传感器: CMOS
光源 :内置 LED 可调光源
支持系统:Windows / macOS
配套软件 :DinoCapture 2.0
典型应用场景
模具行业:模具凸点 、 凹点尺寸与圆度检测、模具型腔磨损量测量、注塑件毛刺、飞边尺寸量化
电子半导体行业:PCB 焊盘尺寸测量、BGA 锡球直径与共面性检测、IC 引脚间距、宽度测量、FPC 线路宽度与间距检测
精密五金行业:精密零部件公差检验、微孔孔径与圆度测量、螺纹、齿轮形貌检测、冲压件尺寸全检
其他应用:汽车零部件尺寸检测、医疗器械精密加工检验、珠宝玉石内部结构观察、科研教学微观测量实验
为什么选择 Dino-Lite AM4515ZTL?
1. 测量与成像一体化:无需购置额外测量软件,降低总体拥有成本
2. 批量检测效率高:多点同步标注,适合产线批量质检
3. 测量精度可靠:0.01mm 精度,满足绝大多数工业精密检测需求
4. 品牌品质保障:Dino-Lite 全球手持显微镜领导品牌,产品稳定耐用
5. 本地化服务支持:中国区授权运营商提供上门演示、样品实测及售后技术支持
Dino-Lite AM4515ZTL 手持数码显微镜,以 '手持即拍、数据即得' 的设计理念,为工业精密检测提供高效、精准、可追溯的测量解决方案。无论您是需要对模具凸点进行批量测量,还是对精密微孔进行尺寸量化,AM4515ZTL 都能以清晰的成像和可靠的测量数据,助力您的品质管控。
想了解您的产品在 Dino-Lite 显微镜下的成像与测量效果?欢迎联系我们,可安排上门演示或寄送样品实测,用真实效果说话。

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