Dino-Lite显微镜DPQ深度采集功能使用教程（EDOF对焦偏移测量原理及参数）

      Dino-Lite DPQ是搭载EDOF扩展景深镜头的专用深度测量功能，通过对焦偏移量化计算样品微观高低落差与深度数据，支持数值图片刻印存档。本文详细介绍DPQ功能测量原理、操作步骤、兼容机型、软件配置及精度参数，是工业显微深度检测的实用技术参考。

     在工业精密检测、电子元器件质检、模具微观测量、材料科研领域，传统显微镜仅能输出二维平面图像，无法获取样品立体深度、台阶落差、凹凸差值数据，难以满足高精度检测、品质核验、实验数据留存的需求。

为解决微观深度测量难题，Dino-Lite针对全系EDOF扩展景深机型，升级搭载DPQ深度采集功能。该功能依托精准可控的镜头对焦偏移技术，实现非接触式、可量化、可溯源的微观深度测量，无需额外配件，一机完成高清成像与深度尺寸检测，广泛适配各类精密微观检测场景。

一、Dino-Lite DPQ深度采集功能原理

DPQ深度测量功能基于EDOF扩展景深光学技术开发，核心利用双焦平面对焦偏移差值计算深度数据。Dino-Lite专用EDOF镜头支持前后精准对焦移动，区别于传统对焦叠放成像，DPQ可将对焦位移精准量化为具体毫米数值。

设备以首次对焦的样品平面为零基准参考面，通过二次调整对焦位置，捕捉两个焦平面的偏移距离，精准测算出样品凸起、凹陷、台阶的高低落差，测量数值实时展示在软件界面，拍照后可自动刻印在成像画面中，实现测量数据可视化、永久存档。

二、DPQ深度采集标准操作步骤

DPQ功能操作简洁，全程依托DinoCapture软件完成，无需专业调试，适配批量检测与精准抽检场景，具体操作流程如下：

1、设定基准零平面

开启DinoCapture软件，操控Dino-Lite显微镜对焦至样品检测基准面，将该平面设定为深度测量0基准点，作为后续深度测算的参考依据。

2、开启重对焦模式采集深度数据

基准面设定完成后，进入重对焦模式，两种对焦调节方式可选：

① 鼠标快捷操作：鼠标滚轮点击目标检测点自动对焦，滚动滚轮微调焦点位置；

② 精准手动操作：按住Ctrl键+滚动鼠标滚轮，手动精细化调节对焦。

软件实时显示焦点偏移数值，正数代表检测平面低于基准面，负数代表检测平面高于基准面，直观呈现深度落差数据。

3、退出模式并保存数据图像

深度测量完成后，点击预览窗口任意位置或按下ESC键，即可退出重对焦模式。直接拍摄保存图像，系统自动将深度测量数值刻印在图片上，完成数据留存，可直接用于检测报告、品质溯源。

三、DPQ功能兼容机型与软件配置要求

DPQ深度采集为EDOF专属功能，不支持全系列显微镜通用，仅适配指定Edge系列机型，同时对配套软件版本有硬性要求，配置不达标无法正常启用功能。

1、兼容DPQ功能的Dino-Lite机型

Edge PLUS系列：AM4917MZT、AM4917MZTL、AM4917MZT4、AM4917MT8、AM8917MZT、AM8917MZTL

Edge 5MP系列：AF7915MZT、AF7915MZTL

Edge 3.0系列：AM73915MZT（R10）、AM73915MZTL（R10A）、AM73915MZT4、AM73915MT8

2、软件运行要求

仅支持Windows操作系统，需安装 DinoCapture 3.0 或 DinoCapture 2.0（1.5.40及以上版本），旧版本软件无DPQ深度采集功能权限，Mac系统暂不适配。

四、DPQ测量量程与精度公差参数说明

Dino-Lite DPQ深度测量的最大量程、测量精度、误差公差，与设备放大倍率高度相关，倍率数值直接决定测量范围和精准度，核心参数规律清晰：

1、低倍率状态：最大深度测量范围更大，可检测样品大跨度高低落差，适配大件样品宏观深度检测；

2、高倍率状态：测量公差大幅降低，精度显著提升，可捕捉微米级细微落差，适配精密元器件、微小瑕疵检测。

主流机型参数参考：20倍低倍率下，最大深度测量范围可达数十毫米；200倍高倍率下，测量公差可控制在0.016mm以内，完全满足工业高精度质检、科研实验的严苛测量标准。不同机型（MZT/MZTL/MZT4/MT8）量程与公差略有差异，高倍专用机型可实现更高精度、更小误差的深度检测。

五、Dino-Lite DPQ功能核心优势

1、非接触无损测量：纯光学对焦测算，无需接触样品，不会划伤、损伤精密元器件、软质材料、微观标本，适配易碎、高精度样品检测。

2、数据精准可溯源：量化毫米级深度数据，自动刻印图片存档，无需手动记录，数据真实可查，适配工业质检报告、科研数据归档。

3、一机多用降本增效：依托设备原生EDOF镜头实现功能，无需加装额外测量配件，兼顾高清成像与深度测量，大幅降低检测设备成本，提升工作效率。

4、全场景深度适配：可精准识别样品凸起、凹陷、台阶、缝隙等各类高低落差，全方位还原样品三维微观结构，弥补二维成像的检测短板。

六、DPQ功能常见使用问题解答

Q1：设备无法使用DPQ深度采集功能是什么原因？

A：优先排查两点，一是确认机型为官方兼容的EDOF系列型号，二是升级DinoCapture软件至1.5.40及以上版本，Mac系统设备暂不支持该功能。

Q2：DPQ深度测量数值存在误差如何解决？

A：误差多为倍率搭配不当导致，大落差样品选用低倍率扩大测量量程，细微精密检测选用高倍率提升精度，按需调节倍率即可优化测量准确度。

Q3：测量后的深度数据能否长期保存复用？

A：支持永久保存，测量数值自动嵌入成像图片，可随时导出、打印、归档，适用于批量质检对比、实验数据留存、产品品质追溯。

总结

Dino-Lite DPQ深度采集功能，是EDOF显微技术的核心升级功能，彻底解决了传统显微镜二维成像无法测量深度落差的痛点。凭借无损检测、精准量化、操作便捷、数据可溯源的优势，成为工业精密制造、电子质检、模具检测、材料科研、微观分析的核心工具。适配专属EDOF机型与新版DinoCapture软件，即可快速实现高效、高精度的微观深度测量，大幅提升微观检测的专业性与效率。