Dino-Lite 手持荧光显微镜｜工业质检的 “隐形缺陷探测器”，精准识别肉眼不可见的荧光信号

       工业涂层、树脂材料、纤维制品、PCB 板等产品的缺陷检测中，很多杂质、老化、破损无法通过明场观测识别，而荧光检测正是发现这些隐形缺陷的关键手段。Dino-Lite AM4517MT 系列手持荧光显微镜，专为工业场景设计，多波段激发 + 广域滤波，让荧光缺陷 “无所遁形”。

✅ 定制化波段配置，适配多类工业材料检测

• 涂层与树脂检测：AM4517MT-RFYW（575nm 黄橙光激发）可精准识别工业涂层的针孔、破损，以及树脂材料的老化、杂质；AM4517MT-DFRW（620nm 红光激发）可检测近红外荧光标记的涂层缺陷，满足深色涂层的检测需求。
  
• 纤维与矿物质筛查：AM4517MT - 福（375nm 紫外）的广域白屏检测模式，可快速识别纤维制品中的荧光异物、矿物材料的成分缺陷，无需复杂前处理。
  
• 聚合物与材料质检：AM4517MT-BFCW（435nm 蓝光）可检测聚合物材料的内部杂质、鱼鳞 / 塑料部件的表面缺陷，AM4517MT-YFGW（520nm 绿光）可识别颜料、染料的分布不均问题。
  
• 双信号对比检测：AM4517MT-GRFBY 双 LED 型号，可同时完成材料中两种荧光标记的信号对比，适用于复合材料的成分分析与缺陷定位。
  

✅ 工业场景专属优势，高效提升质检效率

• 原位无损检测：无需拆解工件、无需制备样本，手持设备可直接对准生产线、成品工件进行检测，避免对产品造成二次损伤。
  
• 多场景通用：无论是车间生产线、仓库抽检，还是实验室复检，轻巧的机身都能轻松适配，不受场地限制。
  
• 操作零门槛：无需专业荧光检测经验，一键切换激发波段与模式，快速完成缺陷识别，降低人工成本与培训成本。
  

从汽车涂层、电子元件到纤维材料、工业树脂，Dino-Lite 手持荧光显微镜为工业质检提供了低成本、高效率的荧光检测方案，助力企业实现更精准的质量管控。