【Dino-Lite 940nm红外显微方案｜耳机感应区检测-专属工具，赋能精准洞察】

在精密电子元件的质量把控中，细节决定成败。

Dino-Lite 940nm近红外光源显微镜对TWS耳机光学感应模组进行深度检测，突破传统检测瓶颈，为智能穿戴领域树立了光学检测新标杆。

▌技术优势直击痛点

通过940nm非可见光波段穿透性成像技术，Dino-Lite EDGE系列显微镜可实现：

✅ 无损透视检测：精准观测入耳检测传感器、距离感应器等精密结构，避免可见光干扰敏感元件

✅ 微米级缺陷捕捉：800万像素高清成像搭配偏振光技术，有效识别0.1mm级焊点异常/镀层缺陷

✅ 智能量化分析：内置Measurement 3.0系统支持2D/3D尺寸测量，自动生成符合ISO标准的检测报告

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▌实测场景效能倍增

在TWS耳机生产线实测中，该系统成功实现：

• 光学传感器遮光膜贴合度100%可视化检测

• 红外发射接收模组光路校准效率提升300%

• 静电敏感元件零接触式快速排查

Dino-Lite定制化检测方案，现特别开放：

制造业企业，供应链企业专属设备试用通道

光学感应模组检测SOP定制服务

红外显微技术工程师驻场支持

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【DinoLite-启示发展有限公司】

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